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GDS900

Spectromètre d’émission atomique à décharge luminescente

Notre spectromètre à décharge luminescente (SDL) GDS900 vous offre une technologie de pointe spécialement conçue pour votre détermination d’éléments de routine dans la plupart des matrices solides conductrices. Le logiciel convivial Cornerstone®  est intégré à la plateforme pour une convivialité accrue, des rapports simplifiés et des temps d’analyse simplifiés, ce qui vous permet de gagner du temps dans votre laboratoire.

  • La source de décharge luminescente apporte un certain nombre d’avantages, notamment :
    • Étalonnages linéaires simples comparés à d’autres sources
    • Excitation contrôlée qui se produit loin de la surface de l’échantillon
    • Réduction de la consommation de matériaux de référence
  • Le système de détection assure la stabilité, la flexibilité et la performance
    • Couverture totale des longueurs d’onde de 160 nm à 460 nm
    • Résolution de 50 pm (0,050 nm) pour différencier même les caractéristiques les plus complexes des spectres de masse
  • Le nettoyage automatique entre les échantillons permet de gagner du temps, minimise les effets de matrice pour une précision accrue

Applications

Le GDS900 est idéal pour les applications suivantes: acier, fer (y compris fonte), aluminium, cuivre, zinc, nickel, cobalt, tungstène et titane.

La spectrométrie à décharge luminescente (GDS) est une méthode analytique permettant de déterminer directement la composition élémentaire des échantillons solides. Un échantillon plat préparé est placé sur la source de décharge luminescente, la source est évacuée et remplie d’argon. Un champ électrique constant est appliqué entre l’échantillon (cathode) et le corps de la lampe mis à la terre (anode). Ces conditions entraînent la formation spontanée d’une décharge stable et autoentretenue, appelée décharge luminescente. Le courant appliqué est régulé par l’alimentation et la tension de la lampe est maintenue constante par la régulation de la pression d’argon. Dès que le plasma est initié, les ions de gaz inerte formés dans le plasma sont accélérés par le champ électrique vers l’échantillon (cathode). Grâce à un processus appelé pulvérisation cathodique, l’énergie cinétique est transférée des ions de gaz inerte aux atomes de la surface de l’échantillon, ce qui provoque l’éjection de certains de ces atomes de surface dans le plasma.
 
Une fois que les atomes sont éjectés dans le plasma, ils sont soumis à des collisions inélastiques avec des électrons énergétiques ou des atomes d’argon métastables. L’énergie transférée par de telles collisions provoque l’excitation électrique des atomes pulvérisés. Les atomes excités se relâchent rapidement dans un état d’énergie inférieure en émettant des photons. La longueur d’onde de chaque photon est déterminée par la configuration électronique de l’atome à partir duquel il a été émis. Chaque élément ayant une configuration électronique unique, chaque élément peut être identifié par sa signature spectrochimique unique ou son spectre d’émission.
 
Un spectromètre est utilisé pour mesurer les signaux d’émission de la décharge luminescente. Afin de garantir que le support contenu dans le spectromètre soit transparent à la lumière ultraviolette (160-460 nm), l’ensemble du système optique est purgé à l’argon. Les matrices de dispositif à couplage de charges photosensibles (CCD) sont positionnées dans le plan focal de manière à ce que le spectre d’émission complet soit enregistré entre 160 et 460 nm. Les matrices CCD convertissent le spectre en un signal électrique, qui est numérisé et traité pour éliminer le signal de courant d’obscurité, normaliser la réponse des pixels, étendre la plage dynamique et éliminer la pixellisation. Puisque le nombre de photons émis par chaque élément est proportionnel à sa concentration relative dans l’échantillon, les concentrations en analyte peuvent être déduites par étalonnage avec des échantillons de référence de composition connue.
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GDS900 Détails

GDS900

  • Modèles
    1. GDS900DCBO - GDS900 pour l’analyse élémentaire d'échantillons massifs (160 à 460 nm)

    1. GDS900DCEXBO - GDS900 pour l’analyse élémentaire d'échantillons massifs sur une plage de longueurs d’onde étendue (160 à 850 nm)

  • Options
    1. Bureau intégré ou poste de travail mobile

    1. Extension du spectromètre pour étendre la couverture spectrale de 460 à 850 nm

    1. Enceinte d’insonorisation de pompe à vide

  • Application vedette
    Aciers faiblement alliés
  • Littérature sur les produits
    GDS900
  • Consommables


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