GDS900Spectromètre d’émission atomique à décharge luminescente

Notre spectromètre à décharge luminescente (SDL) GDS900 vous offre une technologie de pointe spécialement conçue pour vos analyses élémentaires de routine dans la plupart des matériaux solides conducteurs. Le logiciel convivial Cornerstone est intégré à la plateforme pour une plus grande simplicité d’utilisation, des rapports simplifiés et des temps d’analyse optimisés, ce qui vous permet de gagner du temps dans votre laboratoire.

Caractéristiques

La source de décharge luminescente apporte un certain nombre d’avantages, notamment :

  • Étalonnages linéaires simples comparés à d’autres sources
  • Excitation contrôlée qui se produit loin de la surface de l’échantillon
  • Réduction de la consommation de matériaux de référence
  • Le nettoyage automatique entre les analyses permet de gagner du temps et de minimiser les effets matrices pour une performance analytique accrue.

Le système de détection garantit stabilité, flexibilité et performance, avec les spécifications suivantes :

  • Couverture totale des longueurs d’onde de 160 nm à 460 nm
  • Résolution de 50 pm (0,050 nm) pour différencier les spectres les plus complexes

Une assistance « CDP Analysis Support » est disponible en option.

  • Composition du profilage en profondeur des échantillons solides électroconducteurs
  • Idéal pour le placage, la galvanisation, le revêtement et autres traitements de surface conducteurs

Applications

Le GDS900 est idéal pour la détermination élémentaire globale (bulk) dans les métaux ou d’autres matériaux solides, comme l’acier, la fonte, le titane et d’autres métaux. Lorsqu’équipé de l’option CDP, il permet d’inclure la composition du profilage en profondeur de surfaces telles que galvanisation, placage, traitements thermiques et revêtement.

Principe de fonctionnement

La spectrométrie à décharge luminescente (GDS) est une méthode analytique permettant de déterminer directement la composition élémentaire des échantillons solides. Un échantillon plat préparé est placé sur la source à décharge luminescente, la source est évacuée et remplie d’argon. Un champ électrique constant est appliqué entre l’échantillon (cathode) et le corps de la lampe mis à la terre (anode).

Ces conditions entraînent la formation spontanée d’une décharge stable et autoentretenue, appelée décharge luminescente. Le courant appliqué est régulé par l’alimentation et la tension de la lampe est maintenue constante par la régulation de la pression d’argon.

Dès que le plasma est initié, les ions de gaz inerte formés dans le plasma sont accélérés par le champ électrique vers la cathode. Grâce à un processus appelé pulvérisation cathodique, l’énergie cinétique est transférée des ions de gaz inerte aux atomes de la surface de l’échantillon, ce qui provoque l’éjection de certains de ces atomes de surface dans le plasma.

Une fois que les atomes sont éjectés dans le plasma, ils sont soumis à des collisions inélastiques avec des électrons énergétiques ou des atomes d’argon métastables. L’énergie transférée par de telles collisions provoque l’excitation électrique des atomes pulvérisés. Les atomes excités se relâchent rapidement dans un état d’énergie inférieure en émettant des photons.

La longueur d’onde de chaque photon est déterminée par la configuration électronique de l’atome à partir duquel il a été émis. Chaque élément ayant une configuration électronique unique, chaque élément peut être identifié par sa signature spectrochimique unique ou son spectre d’émission.

Un spectromètre est utilisé pour mesurer les signaux d’émission de la décharge luminescente. Pour s’assurer que l’intérieur du spectromètre soit transparent à la lumière ultraviolette (160-460 nm), l’ensemble du système optique est purgé à l’argon. Les détecteurs à couplage de charges photosensibles (CCD) sont positionnées dans le plan focal de manière à ce que le spectre d’émission complet soit enregistré entre 160 et 460 nm.

Les détecteurs CCD convertissent le spectre en un signal électrique, qui est numérisé et traité pour éliminer le signal de courant d’obscurité, normaliser la réponse des pixels, étendre la plage dynamique et éliminer la pixellisation. Puisque le nombre de photons émis par chaque élément est proportionnel à sa concentration relative dans l’échantillon, les concentrations en analyte peuvent être déduites par étalonnage avec des échantillons de référence de composition connue.

Modèles
  • GDS900DCBO
    • Lampe DC pour échantillons conducteurs
    • Analyse élémentaire globale (Bulk)
    • Pompe rotative à palettes
  • GDS900DCEXBO
    • Lampe DC pour échantillons conducteurs
    • Analyse élémentaire globale (bulk) sur une plage de longueurs d’onde étendue
    • Pompe rotative à palettes
  • GDS900DCQO
    • Lampe DC pour échantillons conducteurs
    • Analyse élémentaire et CDP globale (bulk)
    • Pompe rotative à palettes
  • GDS900DCQEXO
    • Lampe DC pour échantillons conducteurs
    • Analyse élémentaire globale (bulk) et CDP sur une plage de longueurs d’onde étendue
    • Pompe rotative à palettes
Options
  • Bureau intégré ou poste de travail mobile
  • Régulateurs de gaz haute pureté
  • Enceinte d’insonorisation de pompe à vide
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